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技術(shù)支持
NTC芯片的銀遷移機(jī)理
發(fā)布者 : admin 發(fā)布時(shí)間 : 2022/07/07 09:07:03


什么是銀遷移現(xiàn)象呢?它是指水分子在潮濕環(huán)境中(尤其是直流電壓梯度的環(huán)境),滲入到含銀導(dǎo)體的表面,然后電解形成氫離子和氫氧根離子;然后,銀離子會(huì)在電場(chǎng)的作用下從高電位遷移至低電位,同時(shí)形成枝蔓狀或者絮狀擴(kuò)展,黑色氧化銀便會(huì)在高、低電位相連邊界形成。在NTC芯片應(yīng)用當(dāng)中,銀遷移現(xiàn)象會(huì)導(dǎo)致熱敏芯片在投入使用后降低其可靠性。

銀遷移發(fā)生的前提是:

一、必須在兩電極間的絕緣物表面或內(nèi)部存在著導(dǎo)電性或?qū)щ姷臐駳獗∧ぃ?/span>

二、在兩電極間施加了直流電壓。

銀遷移是電化腐蝕的特殊現(xiàn)象,其發(fā)生機(jī)理是當(dāng)在絕緣基板上的銀電極(鍍銀引腳或鍍銀的PCB布線)間加上直流電壓時(shí),當(dāng)絕緣板吸附了水分或含有鹵素元素等時(shí),陽(yáng)極被電離。

水(H2O)在電場(chǎng)作用下被電離:

H2O?OH-+H+

H+在移向陰極時(shí)獲取電子氫氣(H2)并向空間逸出,同時(shí)OH-移向陽(yáng)極將陽(yáng)極Ag溶解形成AgOH,具體化學(xué)反應(yīng)公式如下:

Ag?Ag++e(氧化反應(yīng))

Ag++OH-?AgOH(還原反應(yīng))

由電化學(xué)反應(yīng)生成的AgOH是不穩(wěn)定的,很容易和空氣中的氧或合成樹(shù)脂中的基團(tuán)反應(yīng),在陽(yáng)極側(cè)生成氧化銀。

2AgOH?Ag2O+H2O

假設(shè)陽(yáng)極被不斷溶蝕并伴隨氧化銀成長(zhǎng),在其抵達(dá)陰極時(shí)Ag便會(huì)被還原而后析出,具體化學(xué)反應(yīng)公式如下:

Ag2O+H2O?2AgOH?2Ag++2OH-

由于上述的化學(xué)反應(yīng)處于不斷循環(huán)的狀態(tài),因此會(huì)導(dǎo)致Ag2O呈樹(shù)枝狀從陽(yáng)極往陰極擴(kuò)展,而且Ag會(huì)被還原而后析出。

銀遷移現(xiàn)象不僅沿著絕緣基板的表面發(fā)生,而且也會(huì)沿著基板的厚度方向發(fā)生。銀遷移的影響因素有:

一、銀遷移狀態(tài)隨有機(jī)絕緣板上的分解物的種類(lèi)、施加的直流電壓的大小、水的純度、處理的溫度與濕度等的不同而不同;

二、銀遷移現(xiàn)象的發(fā)生還會(huì)因電極之間存在的特定離子(如存在Cl-、Br-、I-、F-等鹵素離子)而變得更容易。

為了更好地避免銀遷移導(dǎo)致設(shè)備損壞,廣東愛(ài)晟電子科技有限公司研發(fā)、生產(chǎn)了一款高精度的金電極NTC芯片,相較于銀電極NTC芯片,其具有更高可靠性以及更高穩(wěn)定性。





參考數(shù)據(jù):

電子制造資訊站《Ag離子遷移的生長(zhǎng)機(jī)理與危害》

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